عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۵,۷۵ ثانیه یافت شد.
1. Testing and reliable design of CMOS circuits
استناد
اطلاعات استناد دهی
BibTex (مخصوص کاربران)
RIS (مخصوص کاربران)
Endnote (مخصوص کاربران)
Refer (مخصوص کاربران)
Mark (مخصوص کتابخانه ها)
پدیدآورنده :
Jha, Niraj K.
کتابخانه:
كتابخانه پژوهشگاه نیرو
(
طهران
)
موضوع :
، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction
رده :
»
1
«
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح